造巖礦物學(xué)實(shí)驗指導書(shū)籍

一、教學(xué)內容及安排
實(shí)驗一、晶體對稱(chēng)與晶體分類(lèi)（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的：通過(guò)分析晶體模型，理解和鞏固晶體對稱(chēng)的概念，了解晶體對稱(chēng)的特點(diǎn)。學(xué)會(huì )在晶體上尋找對稱(chēng)要素，確定對稱(chēng)型、晶系和晶族。
2、實(shí)驗內容：
（1）學(xué)會(huì )尋找對稱(chēng)面、對稱(chēng)心、對稱(chēng)軸和旋轉反伸軸。
（2）對晶體模型確定其所屬晶類(lèi)（對稱(chēng)型）、晶系和晶族。
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：木制模型。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：木制模型6人一套

實(shí)驗二、單形和聚形（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）認識47種單形
（2）了解各種單形在各晶族晶系中的分布
（3）深入理解單形和聚形的概念，掌握從聚形中分析單形的方法
2、實(shí)驗內容
（1）認識47單形，熟練掌握其中重點(diǎn)的25種單形。
（2）從聚形中分析單形，結合所給模型分析聚形，將分析結果記入鑒定表。
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：木制模型。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：木制模型6人一套

實(shí)驗三、晶體定向及估計晶面符號（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）進(jìn)一步鞏固晶軸、軸單位、晶體常數、晶面符號（米氏符號）、單位面的概念。
（2）學(xué)會(huì )晶體定向的方法、學(xué)會(huì )確定晶面符號和單形符號。
2、實(shí)驗內容
    根據給出的晶體模型，分析對稱(chēng)型、確定所屬晶系，再根據不同晶系晶體的定向方法對晶體進(jìn)行定向，zui后確定單形名稱(chēng)和符號。
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：木制模型。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：木制模型6人一套

實(shí)驗四、偏光顯微鏡的使用及單偏光鏡下解理和多色性的觀(guān)察（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）掌握偏光顯微鏡的構造、裝置及各部件的名稱(chēng)、用途、使用規則
（2）初步掌握偏光顯微鏡的調節和中心校正
（3）掌握偏光顯微鏡下觀(guān)察礦物的解理等級，認識多色性現象
（4）掌握兩組解理夾角的測量方法
2、實(shí)驗內容
（1）認識顯微鏡的構造
（2）用黑云母（56?；?1＃）檢查上下偏光的振動(dòng)方向
（3）觀(guān)察角閃石的形態(tài)和顏色
（4）觀(guān)察黑云母（57?；?1＃）、普通角閃石（14?；?8＃）及橄欖石（82＃）的解理等級
（5）觀(guān)察黑云母的多色性
（6）測量普通角閃石兩組解理夾角
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗五、單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)－相對折光率的觀(guān)察與比較（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的：
（1）進(jìn)一步理解突起、糙面、貝克線(xiàn)及閃突起的含義
（2）掌握相對折光率的觀(guān)察和比較方法。

2、實(shí)驗內容
（1）、觀(guān)察石榴子石、橄欖石、普通角閃石、石英、螢石的突起、糙面及貝克線(xiàn)移動(dòng)情況，判斷折光率的相對大小。
（2）、觀(guān)察方解石的閃突起現象
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗六、正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)－消光類(lèi)型、干涉色級序、重折率測定（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）、掌握礦物切片的三種消光類(lèi)型。
（2）、掌握石英楔子干涉色級序
（3）、學(xué)會(huì )用色圈法，判斷礦片的干涉色級序。
2、實(shí)驗內容
（1）均質(zhì)體及垂直于光軸切面的消光現象的觀(guān)察
（2）觀(guān)察普通角閃石的消光類(lèi)型
（3）觀(guān)察石英楔子的干涉色級序及其特征
（4）用色圈法確定橄欖石（82＃）、普通角閃石（14?；?8＃）、石英（54＃）的zui高干涉色級序，并從干涉色色譜表中查出上述三種礦物相應的雙折射率
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗七、正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)－定軸名、測延性、測zui大消光角（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）利用試板測定光率體橢圓半徑的方向及名稱(chēng)
（2）掌握延性的概念及延性符號的測定方法
（3）掌握zui大消光角的測定方法
2、實(shí)驗內容
（1）觀(guān)察黑云母（56＃）和紅柱石（48＃）的縱切面干涉色級序，并測定縱切面光率體橢圓半徑的名稱(chēng)及延性符號
（2）觀(guān)察普通角閃石（14＃）不同切面的干涉色級序
（3）選擇普通角閃石（14＃）zui高干涉色切面，測定其zui大消光角及延性符號。
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗八、錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)觀(guān)察－一軸晶干涉圖（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）、了解錐光裝置。
（2）、掌握一軸晶各種類(lèi)型干涉圖的形象特點(diǎn)。
（3）、學(xué)會(huì )用一軸晶垂直于光軸切面和斜交光軸切面干涉圖，測定光性符號。
2、實(shí)驗內容
     觀(guān)察石英垂直于光軸的切面、方解石垂直于光軸的切面、電氣石（30＃）垂直于光軸的切面（自己在薄片中找）的干涉圖，并確定它們的光性符號
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗九、錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)－二軸晶干涉圖（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1）認識二軸晶主要類(lèi)型干涉圖的形象。
（2）學(xué)會(huì )用二軸晶垂直于Bxa切面和垂直于光軸的切面干涉圖確定光性符號的方法
2、實(shí)驗內容
    觀(guān)察白云母垂直于Bxa切面、輝石（6#）垂直于光軸的切面自己在薄片中找、黑云母（81?；?8＃）垂直于Bxa切面（自己在薄片中找,近于六邊形）的干涉圖，并確定它們的光性符號，估計2V大小
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗十、礦物的系統鑒定（綜合性實(shí)驗）（2學(xué)時(shí)，綜合性）
1、實(shí)驗目的
1 全面總結晶體光學(xué)的基本理論、基本知識和基本方法。
2學(xué)會(huì )系統鑒定非均質(zhì)體礦物的基本方法和程序。
3 學(xué)會(huì )使用造巖礦物鑒定表。
4要求能對未知礦物進(jìn)行系統鑒定。
2、實(shí)驗內容
    全面總結晶體光學(xué)的基本知識和方法，觀(guān)察鑒定未礦物。要求通過(guò)未礦物的觀(guān)察，寫(xiě)出單偏光下礦物的光性特征、正交偏光鏡下礦物的光性特征，錐光鏡下礦物的光性特征，并確定礦物的名稱(chēng)。
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺

實(shí)驗十一、均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物（2學(xué)時(shí)，驗證性）
1、實(shí)驗目的
（1） 掌握常見(jiàn)的均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物的肉眼鑒定特征及描述方法，著(zhù)重注意礦物的形態(tài)、顏色、光澤、解理、斷口、硬度及相對密度。
（2） 掌握常見(jiàn)的均質(zhì)體礦物和一軸晶礦物的主要特征，注意相似礦物的鏡下區別。
2、實(shí)驗內容
（1） 肉眼觀(guān)察描述下列礦物：
螢石（礦48）、石榴子石（礦70）、石英（礦64）、磷灰石（礦47）、方解石（礦69）、白云石（礦新11）、菱鎂礦（礦28）
（2） 鏡下觀(guān)察描述下列礦物：
螢石（85＃）、石榴子石（56＃）、石英（54＃）、磷灰石（礦47）、霞石（42＃）、方解石（61＃）、菱鎂礦（礦28）
3、主要實(shí)驗儀器設備名稱(chēng)：偏光顯微鏡、薄片、手標本。
4、每臺套主要儀器設備每次實(shí)驗學(xué)生數：偏光顯微鏡1人/臺，薄片1人/盒，手標本6人/套